全新的8900ICP-MS/MS是ICP-MS的一個新類別，涵蓋了從常規商業分析到科學研究和高性能材料分析的應用領域，可用于地球化學和其他嚴苛應用，并為推進并定義前沿研究應用的全新性能標準創造了契機。

有關地球化學的解決方案：

1、鉛同位素分析：消除²⁰⁴Hg同質異位素對²⁰⁴Pb的干擾

使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下可消除²⁰⁴Hg同質異位素對²⁰⁴Pb的干擾，8800的化學分離為消除棘手的干擾問題提供了巨大的潛力，無需進行繁瑣的樣品前處理。在無法進行樣品前處理的情況下（例如通過激光剝蝕ICP-MS進行直接分析）化學分離與MS/MS技術聯用能夠可靠地去除干擾的獲得鉛同位素分析數據，無需復雜且通常不可靠的數字校正。

2、消除¹⁷⁶Yb和¹⁷⁶Lu對¹⁷⁶Hf的干擾以實現準確的¹⁷⁶Hf/¹⁷⁷Hf同位素比分析

使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下消除¹⁷⁶Yb和¹⁷⁶Lu對¹⁷⁶Hf的干擾以實現準確的¹⁷⁶Hf/¹⁷⁷Hf同位素比分析。質量轉移模式與原位質量模式相結合，既解決了商業化高分辨率SF-ICP-MS在最高分辨率下仍無法解決的同質異位素干擾問題，又避免了由樣品基質、其他共存元素以及同位素形成意料之外的新干擾物的產生，從而在各種復雜的合成樣品基質中實現準確的Hf同位素分析。

3、對礦泉水進行硫同位素分餾分析

Agilent 8900高級應用配置ICP-MS/MS非常適合于³⁴S/³²S同位素比分析，其能夠為自然系統中的樣品表征或監測人為影響提供有價值的信息。通過在MS/MS模式下操作8900ICP-MS/MS并以o₂作為反應池氣體，成功避免了由于o₂+與³²S+和³⁴S+重疊所引起的質譜干擾問題。

4、消除氫化物離子（MH+）對稀土元素的干擾

安捷倫ICP-MS/MS以MS/MS質量轉移模式運行，非目標質量數在進入反應池之前已被去除，能夠實現ICP-QMS，甚至扇形磁場ICP-MS也不可能達到的去除干擾效果。采用該科技，實現了50ppm Ba基質中的La、50 ppm La基質中的Ce和50 ppm Gd基質中的Tb的痕量（ppt)測定。

5、對高純度Nd₂o₃中的痕量稀土元素進行常規測定

采用Agilent 8800串聯四極桿ICP-MS（ICP-MS/MS）直接分析高純度Nd₂O₃樣品中的痕量REE，利用多種ICP-MS/MS模式，可實現對500 pmm Nd₂O₃樣品中所有痕量REE測定的良好長期（2小時）穩定性，證明了該分析方法用于直接分析高純度Nd₂O₃的有效性。